
主要技术参数:
元素测量范围:4Be-92U
检测线:ppm-100%
X光管:4KW,60KV,140mA,输出稳定度士0.005%,75pm
薄窗测角仪:θ、2θ独立驱动,
扫描角度范围:0°-118°(2θ)、7°-148°(2θ),最大扫描速度1200°/min,连续扫描0.1°-300°/min,扫描步进0.002°-1.0°,
定位重现性:士0.0001,
分析角度重现性:0.0003°
温度控制:35℃±0.1°
℃微区分析:最小分析直径500pm,显示直径250um
应用领域:
在地球科学、环境科学、材料科学、生命科学及医学药物、冶金、考古、石油化工、半导体工业等众多领域发挥重要作用。